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ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀

電感耦合等離子體質(zhì)譜法測(cè)定集成電路用N-甲基吡咯烷酮中14種金屬雜質(zhì)的含量

發(fā)布日期:2024-05-23  點(diǎn)擊次數(shù):

通常測(cè)定金屬離子的儀器有原子吸收光譜儀( AAS) 、原子發(fā)射光譜儀( AES) 和等離子質(zhì)譜儀( ICP-MS) 3 種儀器。一般情況下,原子吸收光譜法比原子發(fā)射光譜法剪切線更低,靈敏度更高,但是,有機(jī)物會(huì)對(duì)原子吸收光譜法進(jìn)行干擾。如果利用原子吸收光譜法對(duì) NMP 中金屬離子進(jìn)行測(cè)定,樣品需要進(jìn)行復(fù)雜的脫有機(jī)質(zhì)預(yù)處理,容易導(dǎo)致金屬離子含量損失,而且電子級(jí) NMP 中金屬離子含量極低(μg /L 級(jí)) 。因此,原子發(fā)射光譜法和原子吸收光譜法均不能滿足電子級(jí)NMP 中金屬離子的測(cè)定。等離子質(zhì)譜法( ICP-MS) 20世紀(jì) 80 年代發(fā)展起來(lái)的分析方法,經(jīng)過 30 多年的發(fā)展歷程,已漸趨成熟。等離子質(zhì)譜法是目前元素分析中為準(zhǔn)確的分析方法,可以進(jìn)行同位素區(qū)分測(cè)定,剪切線可達(dá)ng /L 級(jí)。在使用等離子質(zhì)譜分析方法過程中,由于多原子分子的干擾,一般采用屏蔽距技術(shù)或碰撞反應(yīng)池技術(shù)進(jìn)行降低或消除干擾來(lái)提高測(cè)定準(zhǔn)確度。

提出了有機(jī)加氧進(jìn)樣系統(tǒng)結(jié)合電感耦合等離子體質(zhì)譜法測(cè)定集成電路用N-甲基吡咯烷酮(NMP)中 NaCd、Pb、Mg、AlCa、CrMn、Fe、CoNi、Cu、Zn、K 等14種金屬雜質(zhì)含量的方法。通過氧氣在線燃燒的方式降低了碳沉積對(duì)錐口的影響,采用標(biāo)準(zhǔn)加入法匹配基體效應(yīng),使用冷等離子體-氨氣碰撞反應(yīng)模式解決了碳元素質(zhì)譜干擾的問題,如1212 對(duì)24Mg 的干擾,1240Ar 對(duì)52Cr 的干擾。14種元素的加標(biāo)回收率為83.2%~123%,14種元素工作曲線的相關(guān)系數(shù)均大于0.999,方法可用于分析雜質(zhì)元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)低于20.00ng·kg-1的樣品,滿足先進(jìn)制程的質(zhì)量要求。

儀器與試劑

電感耦合等離子體質(zhì)譜儀——配有機(jī)加氧進(jìn)樣系統(tǒng)(上海美析儀器有限公司); 純水儀;電子天平。

多元素混合標(biāo)準(zhǔn)溶液:NaCd、PbMg、Al、CaCr、Mn、FeCo、Ni、Cu、Zn、K的 質(zhì)量濃度均為1.0mg·L-1。

儀器工作條件

冷卻氣流量14.00L· min-1,輔助氣流量0.800 L· min-1,載氣流量0.600 L· min-1,氨氣流量0.12mL· min-1,氦氣流量3.5 mL· min-1;氧氣(燃燒氣)體積分?jǐn)?shù)20%(滿量程250mL),氧氣(反應(yīng)氣)流量0.14 mL· min-1;霧化室為石英旋流式,霧化器規(guī)格為可溶性聚四氟乙烯(PFA-50μL· min-1,霧化室冷卻溫度-5 ℃;高真空2.45×10-5Pa;進(jìn)樣方式為自吸;中心管規(guī)格為石英-1.0mm;工作功率1550W。

試驗(yàn)方法

1.0mg·L-1多元素混合標(biāo)準(zhǔn)溶液1.0mL,置于 PFA 容量瓶中,用2%(體積分?jǐn)?shù))硝酸溶液定容至100mL,配制成質(zhì)量濃度為10.00μg·L-1的混合標(biāo)準(zhǔn)溶液。分別取上述混合標(biāo)準(zhǔn)溶液00.2,0.5,1.0,2.0 mL 置于5個(gè)PFA 試劑瓶中,用待測(cè)NMP樣品定量到100g,配制成質(zhì)量分?jǐn)?shù)分別為020.00,50.00,100.00,200.00ng·kg-1的混合標(biāo)準(zhǔn)溶液系列,并繪制工作曲線,采用標(biāo)準(zhǔn)加入法計(jì)算NMP中金屬雜質(zhì)的含量。

結(jié)果與討論

氧氣在線燃燒對(duì)碳沉積的影響

NMP中較高含量的碳,經(jīng)過等離子體后容易在錐口形成碳沉積,圖1(a)是未加氧氣的等離子體火焰,在錐口處形成碳的青色等離子體火焰,圖1(b)是增加氧氣后形成的等離子體火焰,錐口處的青色火焰消失。拆下來(lái)的錐照片同樣證明了這點(diǎn)。圖1(c)是未加氧氣條件下有碳沉積的錐口,圖1(d)是氧氣燃燒后無(wú)碳沉積的錐口。錐口的碳沉積會(huì)造成兩種結(jié)果:第一種是錐口變小,造成進(jìn)入的樣品量變小,導(dǎo)致檢測(cè)結(jié)果偏低,連續(xù)進(jìn)樣測(cè)定6100.00ng·kg-1混合標(biāo)準(zhǔn)溶液,每次進(jìn)樣重復(fù)測(cè)定3次,以Na元素為例,第1次測(cè)量時(shí)響應(yīng)信號(hào)為6 522 cps(每秒計(jì)數(shù)),第6次測(cè)量時(shí)僅為3 286 cps,下降49.6%,詳見表1;第二種是碳沉積造成錐口形狀不規(guī)格,不是標(biāo)準(zhǔn)圓形,導(dǎo)致結(jié)果離散程度較大,以Na元素為例,第6次測(cè)定結(jié)果的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差(RSD)為27%。使用氧氣在線燃燒技術(shù)后,NMP中的碳在氧氣作用下生成二氧化碳?xì)怏w,被載氣帶走,沒有形成碳沉積,以 Na元素為例,通過氧氣在線燃燒后,6次測(cè)試的結(jié)果相差不大,第6次 測(cè)定結(jié)果的RSD僅為3.2%。

相關(guān)系數(shù)和回收試驗(yàn)

按照上文試驗(yàn)方法,以各元素的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為橫坐標(biāo),對(duì)應(yīng)的響應(yīng)信號(hào)為縱坐標(biāo)繪制工作曲線,所得各元素工作曲線的相關(guān)系數(shù)見表3。

采用標(biāo)準(zhǔn)加入法計(jì)算 NMP樣品中金屬雜質(zhì)的含量,并進(jìn)行加標(biāo)回收試驗(yàn),計(jì)算各元素的回收率,結(jié)果見表3。

結(jié)果表明,各元素的回收率為83.2%~123%,各元素工作曲線的相關(guān)系數(shù)均大于0.9990,方法可用于分析雜質(zhì)元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)低于20.00ng·kg-1的樣品,滿足先進(jìn)制程的質(zhì)量要求。

本工作采用電感耦合等離子體質(zhì)譜法測(cè)定集成電路用NMPNa、Cd、Pb、MgAlCa、CrMn、Fe、Co、Ni、Cu、ZnK14種金屬雜質(zhì)含量的方法。通過氧氣在線燃燒的方式解決了錐口碳沉積的問題,采用冷等離子體-氨氣碰撞反應(yīng)模式降低了碳元素引入的質(zhì)譜干擾,如1212+ 對(duì)24Mg+的干擾,1240Ar+對(duì)52Cr+的干擾。方法回 收率為83.2%~123%,工作曲線相關(guān)系數(shù)均大于0.9990,方法可用于分析雜質(zhì)元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)低于20.00ng·kg-1的樣品,滿足先進(jìn)制程的質(zhì)量要求。


儀器參數(shù)

ICP-MS6880電感耦合等離子體質(zhì)譜儀

1.產(chǎn)品介紹
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀 (簡(jiǎn)稱ICP-MS),是20世紀(jì)80年代發(fā)展起來(lái)的一種新的微量、痕量和超痕量元素分析技術(shù)。ICP-MS可測(cè)定元素周期表中大部分元素,且具有極低的檢出限、極寬的動(dòng)態(tài)線性范圍、譜線簡(jiǎn)單、干擾少、精密度高、分析速度快等性能優(yōu)勢(shì).
2.性能特點(diǎn)
◇ 集成氣路模塊,減少氣路接頭,輕量化、模塊化,保障儀器便于移動(dòng)工作
◇自主研發(fā)的固態(tài)電源可以保證儀器在多種模式(如常規(guī)模式、冷等離子體模式)下運(yùn)行,并且在同一方法中允許運(yùn)行多種模式,節(jié)約大量分析時(shí)間及方便研究。
◇ 采用主流化市場(chǎng)設(shè)計(jì),為用戶特別是第三方檢測(cè)用戶大大節(jié)省了儀器占用空間,也為未來(lái)實(shí)現(xiàn)車載應(yīng)用,增加了可能性。
◇中英文快速切換軟件界面,“一鍵式”參數(shù)設(shè)置直觀快捷,提高了用戶的工作效率,也提供自動(dòng)控制儀器及其附件的能力,丸渼適應(yīng)Windows 專業(yè)操作系統(tǒng)
3.應(yīng)用領(lǐng)域
高校、質(zhì)檢中心、環(huán)境監(jiān)測(cè)站、企業(yè)、農(nóng)業(yè)系統(tǒng)、地質(zhì)地礦、 環(huán)境保護(hù)、地質(zhì)冶金、電子電器、食品安全、化工制藥等。

關(guān)于我們

上海美析儀器公司簡(jiǎn)介

上海美析儀器有限公司(以下簡(jiǎn)稱美析),是一家具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的高新技術(shù)企業(yè),美析的創(chuàng)業(yè)理念“科技——因你改變”,并以此為企業(yè)宗旨,不斷探究、果敢創(chuàng)新。特別是在分析測(cè)試儀器領(lǐng)域,不斷開發(fā)出先進(jìn)的產(chǎn)品,使美析成為優(yōu)質(zhì)儀器資源的供應(yīng)者。

美析主營(yíng)光譜類儀器可見分光光度計(jì)、紫外可見分光光度計(jì)、原子吸收光譜儀、超微量分光光度計(jì)、原子熒光光度計(jì)、ICP 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、ICP 電感耦合等離子體質(zhì)譜儀,目前,我們的產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于有機(jī)化學(xué)、無(wú)機(jī)化學(xué)、生物化學(xué)、醫(yī)藥、環(huán)保、冶金、石油、農(nóng)業(yè)等領(lǐng)域。同時(shí)美析利用在產(chǎn)品機(jī)械結(jié)構(gòu)、光學(xué)設(shè)計(jì)、電氣應(yīng)用和軟件開發(fā)方面積累的豐富經(jīng)驗(yàn),結(jié)合市場(chǎng)需求,近期將陸續(xù)推出一批分析類儀器。美析的總部及生產(chǎn)基地設(shè)在上海,營(yíng)銷中心設(shè)在北京,并在江蘇、上海、山東三地建有研發(fā)基地。為充分利用各地的智力資源,美析與國(guó)內(nèi)外的部分科研單位也進(jìn)行了深層次的科研合作,不斷將科研成果轉(zhuǎn)化為生產(chǎn)力。為更好的服務(wù)于廣大客戶,美析儀器國(guó)內(nèi)設(shè)有 12家辦事機(jī)構(gòu),度身定制符合您需求的應(yīng)用解決方案,提高產(chǎn)品的附加值。在不斷服務(wù)國(guó)內(nèi)用戶的同時(shí),美析也與 20 多個(gè)國(guó)家的分銷機(jī)構(gòu)建立了深度的戰(zhàn)略合作關(guān)系。

(美析儀器不僅僅只是一家高新技術(shù)認(rèn)證企業(yè),更通過了 CE 認(rèn)證、FCC 認(rèn)證、RoHS 認(rèn)證以及國(guó)內(nèi)多項(xiàng)資質(zhì)審查認(rèn)證,并有著多項(xiàng)自行研發(fā)的光譜類專利版權(quán)等等)